液晶パネルの光学特性劣化測定システム
| 概要 | 液晶パネルの温度や駆動電流を制御し、発光劣化特性を長期的に評価する試験システムです。 PC上で温度プロファイルや電流条件などの試験レシピを設定し、輝度計で取得した輝度・三刺激値から、色度・色温度などの色演算を自動で行い、各演算値を時系列グラフとして表示します。 装置には複数枚の液晶を実装でき、XYステージ上の輝度計をモータ制御することで、複数サンプルを自動で走査・測定します。 これにより、液晶の寿命評価や劣化メカニズム解析を効率化し、バックライト条件や駆動条件の最適化、品質保証データの高度化に貢献します。 |
|---|---|
| 納入先 | 液晶検査機メーカー(滋賀) |
| 要素技術 | システム設計、PCソフト開発(C#)、RS-232C通信、モータ制御、輝度計、温調、マルチメータ、光学測定、色演算 |
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